Kelvin探針大氣腐蝕電位分布測試系統(tǒng)的研究與開發(fā)

作者：王佳 應(yīng)用領(lǐng)域：
大氣腐蝕機理研究和大氣腐蝕檢測與監(jiān)測系統(tǒng)的開發(fā)

挑戰(zhàn)：
采用NI公司的LabVIEW 6i，PCI-6052E數(shù)據(jù)采集卡和鎖定放大器，X-Y-Z三維掃描平臺等硬件裝置為金屬腐蝕與防護(hù)國家重點實驗室研制國內(nèi)第一臺大氣腐蝕電位分布測試系統(tǒng)。

應(yīng)用方案：
使用NI公司PCI-6052E數(shù)據(jù)采集卡，Newport公司的UTMCC移動平臺和ESP300控制器，PerkinElemer公司的7265鎖定放大器以及壓電陶瓷振動器，密閉測試箱，溫度濕度控制裝置，放大攝像裝置等硬件，在LabVIEW 6i編制的ACSKP-SYS03系統(tǒng)軟件和ACSKP-MON03振動檢測軟件控制下實現(xiàn)大氣環(huán)境中金屬腐蝕電位分布測量與監(jiān)測。

使用的產(chǎn)品：
1．NI LabVIEW 6i Full Development System and NI LabVIEW 6 Application Builder.
2．NI PCI-6052E: 333kS/s, Multifunction I/O, 16 inputs, 16Bits

介紹
Kelvin探頭方法測定大氣腐蝕電位是90年代初德國的Stratmann教授提出的新技術(shù)。由于它能夠不接觸腐蝕體系測定氣相環(huán)境中極薄液層下金屬的腐蝕電位，為大氣腐蝕研究提供了一種有力工具，受到了各國腐蝕科學(xué)家的廣泛關(guān)注。我國也展開了有關(guān)研究，但一直未取得突破。我于90年代初在日本從事這項研究，解決了測量關(guān)鍵技術(shù)，開發(fā)了日本第一臺Kelvin探頭大氣腐蝕電位測定裝置。后來受澳大利亞科學(xué)院邀請為國研制了第一臺掃描Kelvin探頭大氣腐蝕電位分布測定裝置。最近受金屬腐蝕與防護(hù)國家重點實驗室委托，采用PCI-6052E數(shù)據(jù)采集板和LabVIEW 6i平臺和其他硬件為該室研制成功我國第一臺ACSKP-03大氣腐蝕電位分布測定系統(tǒng)。該系統(tǒng)能夠測定大氣中金屬表面微小區(qū)域的電位分布， 是研究大氣腐蝕過程機理和評價防護(hù)措施性能的有力工具。


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