基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器

<strong><a title="基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器" target="_blank">基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器</a></strong> <br />趙文彥，杜 影， 徐凌輝 <br />（<a >北京航天測控技術(shù)開發(fā)公司</a>，北京 100037） <br />摘要：根據(jù)系統(tǒng)級邊界掃描測試技術(shù)的應(yīng)用需求，基于VXI總線的多功能邊界掃描測試控制器具備三種操作模式：IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和從控制器模式。由上位機(jī)控制模件組態(tài)到期望的模式，模件上的TAP口控制器產(chǎn)生1149.1測試信號，提供給JTAG口用于通過TDO/TDI掃描鏈對被測目標(biāo)板進(jìn)行邊界掃描測試。IEEE1149.5主控制器可完成和從控制器間的通訊以便對機(jī)箱或子系統(tǒng)級中可測試性模件進(jìn)行邊界掃描測試。兼容于BSDL和EDIF文件格式的自動測試向量生成軟件可實(shí)現(xiàn)多種掃描測試功能。 <br />閱讀全文：<a target="_blank">基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器<br /></a>