技術(shù)頻道

      NI TestStand處理用于航空電子的老化測(cè)試模型

      Author(s):
      Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group
      Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business Group

      Industry:
      Aerospace/Avionics

      Products:
      NI TestStand

      The Challenge:
      為軍用航空電子系統(tǒng)老化提供緊湊的基于商業(yè)現(xiàn)貨的測(cè)試方案。

      The Solution:
      通過NI TestStand設(shè)計(jì)并創(chuàng)建老化測(cè)試裝置。

      "通過修改SPM可應(yīng)對(duì)更復(fù)雜的測(cè)試序列問題。將這個(gè)組件與最新NI TestStand特性結(jié)合,我們能夠針對(duì)各類測(cè)試要求實(shí)現(xiàn)獨(dú)特、靈活的解決方案。"

      老化測(cè)試的對(duì)象及策略
        Serco測(cè)試系統(tǒng)公司需要開發(fā)一種老化測(cè)試系統(tǒng),它能夠在生產(chǎn)過程中誘導(dǎo)缺陷元件在時(shí)間及壓力方面失效,以防止致命問題的征兆在現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)。使用最初,系統(tǒng)由于固有缺陷或生產(chǎn)相關(guān)因素導(dǎo)致的失效率很高,接下來一段時(shí)間失效率較低,直到產(chǎn)品接近使用壽命時(shí)失效率又會(huì)回升。老化過程就是熱應(yīng)力及功能性電子測(cè)試的重復(fù)循環(huán)應(yīng)用。我們將被測(cè)單元放入熱處理室,然后連接這些單元以測(cè)試設(shè)備。循環(huán)測(cè)試從加熱循環(huán)開始,在熱處理室降溫并給被測(cè)單元斷電后暫停。


                    圖1. Serco 公司的老化測(cè)試裝置

      NI TestStand 應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)
        航空電子要求通過老化測(cè)試檢測(cè)僅在極限溫度下出現(xiàn)的問題。老化測(cè)試循環(huán)時(shí)間較長(zhǎng),并需要重復(fù)測(cè)試,由此可以發(fā)現(xiàn)問題并反饋給測(cè)試方案提供者。Serco 測(cè)試系統(tǒng)公司可以采用NI TestStand 來應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn):
      ● 保證被測(cè)單元在老化測(cè)試過程中不會(huì)處于過應(yīng)力狀態(tài),在整個(gè)溫度范圍內(nèi)進(jìn)行足夠的測(cè)試
      ● 提供多個(gè)單元并行測(cè)試,從而充分利用熱處理室工作時(shí)間,最大化產(chǎn)品吞吐量
      ● 能夠在測(cè)試進(jìn)行中取下單個(gè)測(cè)試單元,同時(shí)不影響正在進(jìn)行的測(cè)試

        NI TestStand 順序過程模型
        我們將NI TestStand 默認(rèn)的順序模型分為兩個(gè)模塊——自動(dòng)化測(cè)試程序(ATP),包含用戶自定義的離散測(cè)試步驟;順序過程模型(SPM)封裝。封裝處理每個(gè)產(chǎn)品測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)操作,包括測(cè)試開始/停止、結(jié)果記錄、及測(cè)試報(bào)告生成。我們可以有效地在封裝與用戶定義的ATP之間傳遞控制。

        SPM被設(shè)計(jì)成每次測(cè)試一個(gè)被測(cè)單元,隨后進(jìn)入下一階段。航空電子老化要求對(duì)同一被測(cè)單元進(jìn)行多個(gè)測(cè)試循環(huán),并且多個(gè)被測(cè)單元能夠在同一處理室中進(jìn)行測(cè)試。因此,最佳方案是改進(jìn)SPM,以創(chuàng)建老化過程模型(BPM)。

      航空電子老化測(cè)試
        為充分利用,處理室必須能夠容納不同被測(cè)單元類型。通過允許用戶決定在運(yùn)行階段的ATP 序列,使得我們開發(fā)的BPM能夠滿足多種被測(cè)單元類型。

      被測(cè)單元預(yù)設(shè)置
        在測(cè)試循環(huán)的第一階段,我們通過設(shè)置變量來控制ATP流。測(cè)試類型及循環(huán)狀態(tài)指示器分別設(shè)置為“pretemperature”和“cold”。由被測(cè)單元數(shù)據(jù)入口面板提供顯示,其外觀取決于被測(cè)單元類型。通過該面板,操作人員能夠得到每個(gè)被測(cè)單元的細(xì)節(jié),從而提高在同一個(gè)處理室中有多個(gè)或不同類型的幾個(gè)被測(cè)單元時(shí)的吞吐量。狀態(tài)面板在每個(gè)被測(cè)單元初始化后加載,它能顯示被測(cè)單元位置及執(zhí)行的ATP 類型。

        有標(biāo)號(hào)的方塊代表每個(gè)被測(cè)單元,它們根據(jù)執(zhí)行程序中當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行顏色編碼。操作人員可以選擇“修正細(xì)節(jié)”按鈕來修改之前輸入的信息。這就便于在測(cè)試階段加載或卸載被測(cè)單元,以充分利用處理室資源。

      老化ATP 主要順序
        設(shè)備的初始化及操作人員的連接指令都因新加載被測(cè)單元的類型不同而不同。

      溫度測(cè)試之前的測(cè)試
        每個(gè)被測(cè)單元的測(cè)試都要確保所有測(cè)試項(xiàng)目都優(yōu)先于熱循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試失效時(shí),系統(tǒng)會(huì)提供替換選項(xiàng)。測(cè)試系統(tǒng)為每個(gè)成功完成測(cè)試的被測(cè)單元生成報(bào)告。

      熱循環(huán)溫度測(cè)試
        當(dāng)處理室進(jìn)入熱循環(huán)狀態(tài)后,序列將“測(cè)試類型”改為“溫度”測(cè)試,并調(diào)用ATP 主序列。該階段對(duì)每個(gè)被測(cè)元件執(zhí)行完整測(cè)試,并編譯獨(dú)立報(bào)告、顯示狀態(tài)面板、監(jiān)測(cè)處理室。

      冷循環(huán)-測(cè)試中斷
        當(dāng)處理室狀態(tài)進(jìn)入冷循環(huán)后,所有單元都斷電,序列回到被測(cè)單元預(yù)設(shè)置階段,并更新狀態(tài)面板,監(jiān)測(cè)處理室。

      測(cè)試終止
        為了避免由于單個(gè)被測(cè)單元失效而造成整個(gè)測(cè)試循環(huán)終止,BPM包含了兩個(gè)不同的終止程序。在溫度測(cè)試之前的測(cè)試階段及熱循環(huán)測(cè)試階段,操作人員可以選擇“終止當(dāng)前被測(cè)單元”。序列退出ATP,返回“操作終止”子程序,這樣就能將所選被測(cè)單元斷電。BPM 隨后修改控制變量停止該被測(cè)單元位置的進(jìn)一步測(cè)試,并在報(bào)告中插入結(jié)果。操作人員還能選擇“終止所有”選項(xiàng)。該選項(xiàng)將立刻將所有被測(cè)單元斷電,完成報(bào)告并終止測(cè)試。

      完成測(cè)試
        循環(huán)測(cè)試持續(xù)進(jìn)行直到測(cè)試類型被設(shè)置為“完成”狀態(tài)。測(cè)試將在以下情況下終止:
        ● 完成所有處理室循環(huán)測(cè)試
        ● 測(cè)試過程中停止供電,迫使序列終止
        ● 序列被終止
        BPM有超過16 個(gè)測(cè)試項(xiàng)目及4 種被測(cè)單元變量,它被成功應(yīng)用到多種航空電子老化測(cè)試中。

                圖2. 操作界面狀態(tài)板處理多達(dá)16 個(gè)不同被測(cè)元件類型

      開發(fā)靈活的解決方案
        通過修改SPM 可應(yīng)對(duì)更復(fù)雜的測(cè)試序列問題。將這個(gè)組件與最新NI TestStand特性結(jié)合,我們能夠針對(duì)各類測(cè)試要求實(shí)現(xiàn)獨(dú)特、靈活的解決方案。

      如果您有任何問題,請(qǐng)留言給NI工程師,我們會(huì)盡快給您回電!


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