NI測(cè)控產(chǎn)品以及虛擬軟、硬件技術(shù)在衛(wèi)星測(cè)控中的應(yīng)用

作者：王營冠 何永孟 陳文通 應(yīng)用領(lǐng)域：
衛(wèi)星電性能測(cè)試

挑戰(zhàn)：
以虛擬儀器技術(shù)代替?zhèn)鹘y(tǒng)衛(wèi)星測(cè)試技術(shù)，提高衛(wèi)星測(cè)試的可靠性和在線分析能力，提高測(cè)試系統(tǒng)的靈活性，降低衛(wèi)星測(cè)試成本。

應(yīng)用方案：
采用NI公司的軟硬件測(cè)控產(chǎn)品開發(fā)衛(wèi)星測(cè)試系統(tǒng)以提高衛(wèi)星研發(fā)過程中的測(cè)試水平

使用的產(chǎn)品：
LabWindows/CVI; PXI-1011, PXI-1025, PXI-6527, SCXI-1120, SCXI-1327, SCXI-1120D，SCXI-1001,SCXI-1320,VXI-1500,VXI-MXI-2,MIO-64E-1,AMC2501.

介紹
衛(wèi)星研制過程的不同階段測(cè)試內(nèi)容和重點(diǎn)各不相同，初樣階段需要對(duì)接口信號(hào)做出及時(shí)判斷，正樣階段測(cè)試則強(qiáng)調(diào)系統(tǒng)的協(xié)調(diào)性和一致性，另外，不同測(cè)試場(chǎng)合對(duì)系統(tǒng)的靈活性要求也不同，研制階段要求測(cè)試系統(tǒng)“大而全”，發(fā)射場(chǎng)地則可以做到“小而精”，傳統(tǒng)做法是測(cè)試研發(fā)人員根據(jù)不同需求研發(fā)不同階段的測(cè)試設(shè)備，這種方法需要為測(cè)試設(shè)備耗費(fèi)不少研制經(jīng)費(fèi)和精力，硬件可靠性常常依賴于研發(fā)者的水平，更改起來也十分不便。這種方法尤其不適應(yīng)以成本低、開發(fā)周期短為特點(diǎn)的小衛(wèi)星。不同測(cè)試目的和系統(tǒng)的融合是提高測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)費(fèi)用和周期的有效辦法，虛擬儀器技術(shù)的硬件可靠性由標(biāo)準(zhǔn)硬件提供商保障，用戶根據(jù)自己的需求適當(dāng)選擇硬組件，編寫操作界面，并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)分析，可隨時(shí)根據(jù)需求改變對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行方便修改，達(dá)到不同測(cè)試目的公用一套測(cè)試系統(tǒng)的目的。

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